電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)

方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

1 范圍

GB／T 2423的本部分適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。

本部分規(guī)定了試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，如高溫度、高濕度和持續(xù)時(shí)間等。本部分適用于散熱和非散熱樣品。

本部分適用于小型設(shè)備及元件，同時(shí)也適用于與試驗(yàn)箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種聯(lián)接需要一定的裝配時(shí)間，在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。

2 規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB／T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則（idt IEC 60068—1：1988）GB/T 2423.2-2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)(idt IEC 60068-2-2;1974)

3 概述

在本試驗(yàn)中，將樣品置于同為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱內(nèi)。

試驗(yàn)箱內(nèi)的條件應(yīng)符合第5章所規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)，并持續(xù)到規(guī)定的時(shí)間。

由于散熱樣品的影響，可能引起試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗(yàn)條件不同，則這兩個(gè)參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進(jìn)行測量（參見GB／T 2421—1999中的4.4及4.6.2）。

4 試驗(yàn)箱

試驗(yàn)箱及其測量系統(tǒng)應(yīng)滿足如下要求：

a）工作空間內(nèi)應(yīng)裝有監(jiān)測溫、濕度條件的傳感器。對(duì)于散熱樣品的穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)，傳感器在工作

空間內(nèi)的安放位置應(yīng)按GB／T 2421—1999的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行；

b）工作空間內(nèi)的溫度和相對(duì)濕度應(yīng)在考慮到放人樣品的影響時(shí)，其值仍在規(guī)定的容差范圍內(nèi)變

化。第5章所給出的溫度容差考慮了測量的絕對(duì)誤差及溫度漸變：

對(duì)于散熱樣品，樣品附近的溫度和相對(duì)濕度由于受到樣品本身的影響，與GB／T 2421—1999中所規(guī)定的位置測得的數(shù)據(jù)不同；

c）凝結(jié)水應(yīng)連續(xù)排出試驗(yàn)箱外，未經(jīng)凈化的水不能重復(fù)使用：d）試驗(yàn)箱內(nèi)壁和頂部的凝結(jié)水不應(yīng)滴落到試驗(yàn)樣品上；

e）試驗(yàn)箱內(nèi)濕度用水的電阻率應(yīng)保持不小于500Ω·mf）試驗(yàn)樣品不能受來自試驗(yàn)箱發(fā)熱元件的直接熱輻射；

g）有噴霧系統(tǒng)的試驗(yàn)箱內(nèi)，樣品應(yīng)遠(yuǎn)離噴射口，且濕氣不可直接噴到樣品上。

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